1. 目前位置：
唐麗英

唐麗英 Tong, Lee-Ing

電子郵件／E-mail：litong@cc.nctu.edu.tw

服務單位／Department：管理學院 ／ 工業工程與管理學系

著作期間／Publish Period：1992 - 2014

著作統計／Statistics

Article（36）
Books（3）
Digital Courses（2）
Others（1）
Plan（33）
Proceedings Paper（2）
Thesis（223）

Article

序號
No.		 標題
Title		 著作日期
Date
1 Monitoring the software development process using a short-run control chart
 2013-09-01
2 Quantifying uncertainty of emission estimates in National Greenhouse Gas Inventories using bootstrap confidence intervals
 2012-09-01
3 Bi-criteria minimization for the permutation flowshop scheduling problem with machine-based learning effects
 2012-08-01
4 Forecasting nonlinear time series of energy consumption using a hybrid dynamic model
 2012-06-01
5 Predicting High or Low Transfer Efficiency of Photovoltaic Systems Using a Novel Hybrid Methodology Combining Rough Set Theory, Data Envelopment Analysis and Genetic Programming
 2012-03-01
6 Makespan minimization for m-machine permutation flowshop scheduling problem with learning considerations
 2011-09-01
7 A two-phase algorithm for product part change utilizing AHP and PSO
 2011-07-01
8 Determining the optimal re-sampling strategy for a classification model with imbalanced data using design of experiments and response surface methodologies
 2011-04-01
9 Forecasting time series using a methodology based on autoregressive integrated moving average and genetic programming
 2011-02-01
10 Forecasting energy consumption using a grey model improved by incorporating genetic programming
 2011-01-01
11 Continuously Improving Methods for Increasing the Running Efficiency of Equipment in 300-mm Semiconductor Fabrication
 2010-05-01
12 Wafer defect pattern recognition by multi-class support vector machines by using a novel defect cluster index
 2009-08-01
13 Robust design for multiple dynamic quality characteristics using data envelopment analysis
 2008-08-01
14 Using DEA to optimize a mixture design with multiple responses incorporating cost considerations 2008-07-01
15 Novel yield model for integrated circuits with clustered defects
 2008-05-04
16 The application of control chart for defects and defect clustering in IC manufacturing based on fuzzy theory
 2007-04-01
17 Optimization of multi-response processes using the VIKOR method
 2007-02-01
18 Development of a new cluster index for wafer defects
 2007-01-01
19 Manufacturing performance evaluation for IC products
 2006-03-01
20 Incorporating process capability index and quality loss function into analyzing the process capability for qualitative data
 2006-02-01
21 Optimizing processes based on censored data obtained in repetitious experiments using grey prediction
 2006-02-01
22 Analyzing type II censored data obtained from repetitious experiments
 2006-01-01
23 Predicting type II censored data from factorial experiments using modified maximum likelihood predictor
 2006-01-01
24 Optimization of a multi-response problem in Taguchi's dynamic system
 2005-12-01
25 Optimization of multiple responses using principal component analysis and technique for order preference by similarity to ideal solution
 2005-12-01
26 Monitoring defects in IC fabrication using a hotelling T-2 control chart
 2005-02-01
27 An innovative model of multi-project wafer service in the foundry industry 2005-01-01
28 Dynamic multiple responses by ideal solution analysis
 2004-07-16
29 Bootstrap confidence interval of the difference between two process capability indices
 2003-01-01
30 Quality improvement for dynamic ordered categorical response using grey relational analysis
 2003-01-01
31 Multi-response optimization using principal component analysis and grey relational analysis 2002-12-01
32 Performance assessment of processing and delivery times for very large scale integration using process capability indices
 2002-01-01
33 Optimization of multiple quality responses involving qualitative and quantitative characteristics in IC manufacturing using neural networks
 2001-08-01
34 A neural network-based procedure for the process monitoring of clustered defects in integrated circuit fabrication
 1997-12-01
35 Multi-response robust design by principal component analysis
 1997-12-01
36 Optimizing multi-response problems in the Taguchi method by fuzzy multiple attribute decision making
 1997-01-01

Books

序號
No.		 標題
Title		 著作日期
Date
1 SPSS統計分析 2005
2 STATISTICA 6.0版與基礎統計分析 2003
3 Statistica 與基礎統計分析 2002

Digital Courses

序號
No.		 標題
Title		 著作日期
Date
1 基礎統計
 2013
2 統計學（一）
 2011

Others

序號
No.		 標題
Title		 著作日期
Date
1 Modified process control chart in IC fabrication using clustering analysis 1997-01-01

Plan

序號
No.		 標題
Title		 著作日期
Date
1 應用複式模擬法建構非常態及少量資料新製程之管制圖(I) 2014
2 整合線外與線上品質管制方法建構製程回饋控制系統 2013
3 整合線外與線上品質管制方法建構製程回饋控制系統 2012
4 整合線外與線上品質管制方法建構製程回饋控制系統 2011
5 應用灰理論及遺傳規劃法建構改良及混合式能源需求及消耗之預測模型 2011
6 應用灰理論及遺傳規劃法建構改良及混合式能源需求及消耗之預測模型 2010
7 應用統計理論與統計製程管制方法建構軟體產業CMMI Level-4量化管理流程績效基準及績效預測模型 2010
8 應用統計理論與統計製程管制方法建構軟體產業CMMI Level-4量化管理流程績效基準及績效預測模型 2009
9 金融機構對中小企業放款風險評估與信用評等整合模式及放款決策之研究 2008
10 應用統計理論與統計製程管制方法建構軟體產業CMMI Level-4量化管理流程績效基準及績效預測模型 2008
11 金融機構對中小企業放款風險評估與信用評等整合模式及放款決策之研究 2007
12 反應六標準差品質水準及最低成本之混合實驗多品質特性同時最佳化演算法(III) 2007
13 金融機構對中小企業放款風險評估與信用評等整合模式及放款決策之研究 2006
14 Optimizing Multi-Responses in Mixture Experiments for Achieving Six-Sigma Quality Level at Minimum Cost (II) 2006
15 反應六標準差品質水準及最低成本之混合實驗多品質特性同時最佳化演算法(I) 2005
16 半導體製造之資料探勘技術與知識網絡建立---子計畫三：以製程改善為目標之晶圓廠線上資料探勘與知識管理技術(III) 2004
17 半導體製造之資料探勘技術與知識網絡建立---子計畫三：以製程改善為目標之晶圓廠線上資料探勘與知識管理技術(II) 2003
18 半導體製造之資料探勘技術與知識網絡建立---子計畫III：以製程改善為目標之晶圓廠線上資料探勘與知識管理技術(I)
 2002
19 灰色系統理論應用於靜態及動態等級類別型品質特性最佳化之研究
 2001
20 應用灰色系統理論於受限資料品質特性最佳化之研究
 2001
21 台灣筆記型電腦全面品質管理標竿---顧客滿意度和意見回饋
 2000
22 動態系統中等級類別資料之參數最佳化
 2000
23 建構積體電路之多特性多量測點資料之管制流程
 2000
24 台灣筆記型電腦全面品質管理標竿建立及分析---子計畫IV：台灣筆記型電腦全面品質管理標竿---顧客滿意度和意見回饋
 1999
25 應用良率分析於生產不同積體電路產品之生產線製造績效評估之研究
 1999
26 積體電路生產線上考慮缺陷群聚現象之修正良率模式 1998
27 臺灣筆記型電腦全面品質管理標竿建立及分析---子計畫四：顧客滿意度和意見回饋 1998
28 積體電路生產線上利用類神經網路方法分析缺陷群聚現象之修正缺陷數管制圖 1997
29 良率分析應用於動態隨機存取記憶體中區域分割及修復電路之研究 1996
30 統計科技研究專題計畫---統計理論在積體電路製作品管上之應用 1995
31 工程受限資料之實驗設計分析 1995
32 統計科技研究專題計畫---統計理論在積體電路製作品管上之應用 1994
33 統計科技研究專題計畫---統計理論在積體電路製作品管上之應用 1993

Proceedings Paper

序號
No.		 標題
Title		 著作日期
Date
1 The Optimal Re-sampling Strategy for a Risk Assessment Model 2012-01-01
2 Using Experimental Design to Determine the Re-Sampling Strategy for Developing a Classification Model for Imbalanced Data 2009-01-01

Thesis

序號
No.		 標題
Title		 著作日期
Date
1 應用實驗設計提升無鉛錫膏印刷製程品質-以D公司為例 2014
2 應用DOE改善微機電系統麥克風產品測試良率 2014
3 建構驅動IC封裝測試廠之製造成本預測模型-以X公司為例 2014
4 利用實驗設計改善薄膜式觸控面板直通率-以I 公司為例 2013
5 Using Design of Experiment to improve full on Particle Problem in CMOS Clean Process-Case Study of T Wafer Packaging Company 2013
6 應用滾動灰預測模型與自組性演算法建立股票買賣決策系統 2013
7 應用滾動加速修正偏誤複式區間決定台灣股票之適當買賣價格 2013
8 應用智慧型手機推廣開放式課程之可行性分析 2013
9 應用平衡計分卡問卷改善醫院經營策略-以台灣某中型公立醫院分院為例 2013
10 利用Bootstrap管制圖監控對數常態製程平均數之有效性評估 2013
11 應用自組性演算法建構具不同缺陷點群聚圖案之晶圓良率預測模型 2013
12 不同資產配置比例下壓力測試模型之比較 2013
13 智慧型手機之產品品質、顧客滿意度及顧客忠誠度分析 2013
14 建構台灣花卉市場拍賣銷售總額之預測模型 2013
15 利用中國郵差演算法發展最適之規範測試路徑-以台灣4G電信執照拍賣軟體為例 2013
16 應用實驗設計提升LED鋁線銲線製程品質-以X公司為例 2013
17 結合RFID及平板電腦於TFT-LCD生產設備巡檢之應用
 2012
18 應用景氣對策信號指標建構台灣股市大盤加權指數多變量時間序列預測模型 2012
19 臺灣半導體晶圓代工廠Turn Key Service委外廠商評選方法-以T公司為例 2012
20 晶圓代工廠生產週期時間之預測─以M公司為例 2012
21 以實驗分析多工對工作績效的影響 2012
22 多類別不平衡資料之最適重新取樣策略 2012
23 應用灰關聯分析與雙反應曲面法最佳化多品質問題 2012
24 兩階段產品零件變更綠色供應商之評選模式 2012
25 應用自組性演算法與修正灰預測建構能源消耗預測模型 2012
26 軟體產業在少量樣本下之量化專案管理方法 2012
27 製鞋業塗膠製程最佳化之研究 2012
28 應用向量自我迴歸及遺傳規劃法建構能源消耗預測模型 2012
29 建構混合式匯率預測模型 2012
30 應用滾動灰預測模型之SPC-EPC製程回饋控制系統 2012
31 權重設定下之多反應變數最佳化演算法 2012
32 手機光學零組件供應商之競爭策略 2012
33 應用Kappa分析法評估目視人員檢驗之一致性 2012
34 應用資料包絡分析法評比晶圓廠四班二輪之績效-以某晶圓廠黃光區為例 2012
35 托育機構績效指標之建立 -以新竹市某托嬰中心為例 2012
36 建構半導體生產機台關機之管理模型 2011
37 應用西北角法建構晶圓廠瓶頸機台管理模式 2011
38 應用良率學習曲線於太陽能電池產業之投料規劃 2011
39 具有學習效果的流程式生產排程之最大完工時間與總完工時間最小化之研究
 2011
40 液晶顯示器產品生產組合決策分析方法─以A公司為例 2011
41 應用加權主成份分析與IMR管制圖建構軟體發展流程管制系統 2011
42 考量經濟指標領先及落後效應之違約率預測模型 2011
43 成本考量下之散熱系統最佳化問題 2011
44 應用灰預測方法評估專案完工成本 2011
45 應用品質損失函數於具多種可歸屬原因之平均值管制圖之經濟-統計性設計 2011
46 雲端運算數據機房熱管理系統之建構 2011
47 改善之新開發製程自啟動管制程序 2011
48 建構軟體測試階段之累積失效時間預測模型 2011
49 應用修正灰預測模型與ACUSUM-C管制圖建構具自我相關製程之管制流程 2011
50 雲端數據機房散熱系統最佳化演算法 2011
51 設計調整發光二極體光激螢光光譜波長之自動化回饋系統 2011
52 LCD零組件出貨品質管制流程之構建-以背光光學特性之管制為例 2010
53 使用灰色理論及基因規劃法建構預測模型-以能源消耗之預測為例 2010
54 面板零組件採購量管理系統之建構 -以台灣某TFT-LCD製造業為例 2010
55 應用資料包絡法評估TFT-LCD量產品之生產績效---以台灣某TFT-LCD廠為例 2010
56 量測系統分析流程之建構-以網通廠為案例 2010
57 軟體發展流程管制圖之經濟-統計性設計 2010
58 應用邏輯斯迴歸與存活分析建構台灣中小企業貸款提前清償預測模型 2010
59 風險評估模型之最適重新取樣策略 2010
60 成本導向之多品質混合實驗最佳化演算法 2010
61 應用模糊時間序列與倒傳遞類神經網路預測台灣加權股票指數趨勢 2010
62 應用集群分析和自組性演算法發展類別不對稱資料之減少多數抽樣策略 2010
63 應用邏輯斯迴歸與支持向量機建構兩階段提前清償模型 2010
64 應用改良之粒化計算與主成份分析提升不對稱資料之分類準確率 2010
65 應用殘差修正灰預測模型與自組性演算法建構工程製程管制系統 2010
66 應用滾動灰色預測方法建構能源消耗預測模型 2010
67 應用多屬性決策方法訂定晶圓代工廠選擇量測機台供應商之最佳策略 2009
68 晶圓廠機台加工效率指標之建立及應用 2009
69 應用專案管理方法導入ISO/TS 16949品質管理系統 - 以某晶圓代工廠為例 2009
70 應用故障分析與實驗設計發展TFT-LCD彩色濾光片缺陷修補方法 2009
71 IECQ-QC080000流程管理系統之建置-以某半導體測試廠為例 2009
72 Using Regression Analysis to analyze Cycle Time－A Case Study of Company C 2009
73 整合六標準差與軟體產業CMMI Level 4之管理方法 2009
74 應用雙反應曲面法最佳化多品質實驗設計 2009
75 應用主成份分析與資料包絡法最佳化具多品質特性之混合實驗設計 2009
76 應用灰模糊邏輯及多屬性決策於多品質實驗之最佳化 2009
77 薄膜產業三階段品質管制流程之構建 2009
78 建構太陽能發電系統之三階段轉換效率預測模型 2009
79 軟體發展流程之多績效指標最佳化方法 2009
80 應用存活分析建構台灣中小企業風險評估模型 2009
81 應用逐步迴歸法與自組性演算法於生產機台與量測機台間回饋系統之構建 2009
82 應用MRP之安全時間管理庫存-以國內某面板為例 2009
83 應用LISREL驗證借款企業之財務構面與構建信用評等模式
 2009
84 目標管理推行模式之構建 - 以某光電公司為例 2008
85 以案例式推理法建構類比積體電路在應用端之失效診斷系統 2008
86 應用案例式推理方法建構汽車零件品質診斷系統 2008
87 軟體發展流程之最佳化 2008
88 應用ACUSUM-C管制圖建構晶圓品質之逐步管制流程 2008
89 太陽光電發電系統發電量預測模式之建構–以臺灣地區為例 2008
90 美麗產業之創新服務 2008
91 應用類神經方法建構物件導向軟體可維護性預測模式 2008
92 軟體發展流程之變動抽樣間隔管制圖經濟性設計 2008
93 應用自組性演算法建構多階段信用風險評估模型 2008
94 建構台灣地區太陽能發電系統之發電量預測模型
 2008
95 考量具自我相關之多變異來源製程管制 2008
96 結合案例式推理和基因演算法建構台灣中小企業信用評等決策模型 2008
97 工作站與量測機台間自動化回饋與控制系統之構建 2008
98 整合良率預估及缺陷樣式辨識之晶圓缺陷診斷系統
 2008
99 降低軟片式承載器不良率之參數最佳化研究 2008
100 應用粒子群神經網路構建積體電路之良率預測模式 2007
101 利用自組性演算法與基因演算法於混合實驗最佳化之研究
 2007
102 建構台灣中小企業兩階段風險評估模型 2007
103 軟體發展流程管制圖之經濟性設計 2007
104 具多反應實驗設計最佳化演算法之研究 2007
105 應用資料包絡法與邏輯斯迴歸建構中小企業之信用評等與放款風險整合模型 2007
106 應用集群分析與決策樹建構中小企業風險評估模型 2007
107 以複式模擬法估計股票買賣價格之最適區間
 2007
108 建構軟體發展流程之多變量管制系統
 2007
109 應用資料包絡分析法於多品質實驗之最適化 2007
110 晶圓出貨檢驗流程之標準化及電腦系統之構建
 2007
111 單晶圓製程變異三階段管制流程 2006
112 ISO/TS16949內部稽核之製造過程稽核的規劃與實施程序-以某晶圓代工廠為例 2006
113 應用集群分析設計晶圓量測點之抽樣與模擬方法 2006
114 中小企業信用評等判別程序之構建-以台灣某金融機構為例 2006
115 應用償還率與風險評估模式建構金融機構放款評等流程 2006
116 監控晶圓表面量測值區塊變異之流程 2006
117 應用資料包絡法於多廠區安全文化現況評比 2006
118 建構晶圓量測點抽樣管制流程 2006
119 混合實驗最佳化之研究 2006
120 應用基因演算法及倒傳遞網路構建積體電路之良率預測模式 2006
121 應用灰色多屬性決策演算法於多品質實驗設計最佳化之研究 2006
122 應用資料包絡法最佳化多品質之實驗設計 2006
123 知識分享型教育訓練管理資訊系統之設計與實作 2005
124 利用近似之最大概似法預測重覆性實驗計畫中型II受限資料及構建相關之最佳化演算法 2005
125 應用VIKOR與因素分析於多重品質特性製程之改善 2005
126 無線通訊IC設計業之新產品評估模式 2005
127 利用風險評估與存活期預測模式構建台灣中小企業信用評等流程
 2005
128 中小企業違約信用風險評估流程 2005
129 Optimization of Multi-Response Mixture Experiments under Restricted Manufacturing Costs
 2005
130 SPC與EPC整合系統在多變量自我相關製程之應用 2005
131 利用類神經方法建構晶圓缺陷點群聚圖案之辨識系統
 2005
132 應用資料包絡法於最適化多品質特性混合實驗 2005
133 應用灰色多屬性決策演算法於混合實驗最佳化之研究 2005
134 建構晶圓缺陷點與缺陷群聚現象之適應性管制流程
 2005
135 應用基因演算法求解供應鏈中生產排程與物流配送兩階段總成本最小化問題
 2005
136 以SIPOC流程導向方式執行ISO 9001:2000品質管理系統-以採購管理為例 2005
137 應用ISO/TS16949建構車用TFT-LCD面板廠商之新產品開發流程
 2005
138 反應六標準差水準之多品質特性同時最佳化演算法
 2004
139 利用實驗設計改善積體電路閘極缺陷
 2004
140 應用雙反應曲面分析法於混合實驗多品質特性最佳化之研究 2004
141 基層員工晉升預估方法之建構 2004
142 應用自組性演算法建構企業信用評等模型 2004
143 反應六標準差之多品質特性混合實驗最佳化演算法
 2004
144 應用資料包絡法於大學教師之績效評比 2004
145 應用自組性演算法構建積體電路之良率模式 2004
146 中小企業抵押貸款決策流程之建構
 2004
147 應用多變量指數加權移動平均管制圖監控晶圓表面缺陷數與缺陷群聚問題 2004
148 An Integrated SPC and EPC Procedure for Multivariate Autocorrelated Process 2004
149 企業基層員工晉升率與晉升對象之研究 2004
150 以複式BCa估計法建構單一非對稱規格區間之C"pmk指標的信賴區間
 2003
151 建構複合式信用評等模型
 2003
152 整合金融機構風險評估與信用評等模式之研究
 2003
153 自我相關多變量製程的統計製程管制與工程製程管制流程
 2003
154 晶圓缺陷點變異管制圖
 2003
155 應用一般迴歸神經網路法構建財務危機預警模式
 2003
156 兩個多品質特性製程能力指標Cpm* 差異的複式信賴區間之構建
 2003
157 二階存貨配銷系統轉運之研究
 2003
158 可修復系統失效數據之分析與預測 2002
159 電子產品壽命與製作時程績效之評估 2002
160 應用倒傳遞類神經網路構建積體電路之良率模式 2002
161 整合缺陷點數與群聚指標之積體電路良率模式 2002
162 利用模糊自適應共振理論建構晶圓表面缺陷點及缺陷群聚之管制程序 2002
163 以複式模擬法建構兩個皮爾森分配製程之製程能力指標C''pmk差異值之信賴區間 2002
164 以複式模擬法構建兩個製程能力指標Spmk差異值之信賴區間 2002
165 應用模糊理論構建晶圓缺陷點與群聚現象之管制圖 2002
166 放款風險評估及信用評等整合流程之構建 2002
167 積體電路製程中考慮多種變異來源之缺陷點數管制流程 2002
168 利用製程能力指標Spk構建製程良率之複式信賴區間 2002
169 構建邏輯晶片組廠商量產初期之出貨品質評估模式 2002
170 應用EWMA管制圖構建多特性多量測點資料之管制流程 2001
171 以複式模擬法建構兩個製程能力指標CNpmk差異之信賴區間 2001
172 應用灰色系統理論於重複性實驗計畫中遺失資料之分析 2001
173 模糊理論與類神經網路在企業信用評等之應用 2001
174 以複式模擬法構建非常態下兩個製程能力指標CNpk差異值之信賴區間 2001
175 資料探勘技術在農產運銷的應用 2001
176 應用羅吉斯迴歸構建銀行放款信用評等模式 2001
177 晶圓缺陷點群聚指標之建立 2001
178 矽磊晶晶圓多變量製程管制 2001
179 台北市天然氣公車廠牌選擇之成本效益分析 2000
180 晶圓表面多量測點之線上管制系統之構建 2000
181 以複式模擬法構建單一非對稱規格區間之C"pmk指標的信賴下限 2000
182 Construct the Confidence Interval for Process Yield Using Bootstrap Simulation 2000
183 應用馬氏距離於田口動態系統中等級類別資料最佳化問題 2000
184 積體電路生產線上結合缺陷數與群聚指標之Hotelling T2多變量管制圖 2000
185 應用灰關聯分析與等級離散統計量於等級類別資料之製程參數最佳化 2000
186 應用多變量製程能力指標於多品質特性之新速製程 2000
187 應用灰色系統理論於重覆性實驗計畫中受限資料之分析 2000
188 以複式模擬法構建非對稱規格區間下兩個製程能力指標 C"pmk值差異之信賴區間 2000
189 應用灰關聯分析法於多品質特性與等級類別品質特性之最佳化 2000
190 應用類神經網路與乏晰理論於線外品質最佳化之研究 1999
191 以複式模擬法構建單一製程能力指標Cpmk之信賴下限及兩個製程能力指標Cpmk差異的信賴區間 1999
192 多特性多量測點資料管制流程之構建 1999
193 積體電路生產線上結合缺陷數與缺陷群聚之Hotelling T2多變量管制圖 1999
194 動態系統中等級類別資料之參數最佳化 1999
195 應用主成份分析法於動態系統多重品質特性最佳化之研究 1999
196 來自Pareto分配之型II右側設限資料期望時間與來自Weibull分配之隨機右側設限資料設限點替代公式之推導 1999
197 考慮缺陷來源與群聚現象之積體電路良率模式 1998
198 應用多屬性決策法於動態系統多重品質特性最佳化之研究 1998
199 利用灰關聯分析辨認多變量製程管制失控之特殊變因 1998
200 主成份分析法在多重品質最佳化問題上之應用－以半導體銅製程為例 1998
201 評估工業產品整體品質程序之研究 1998
202 台灣筆記型電腦產品整體品質標竿學習流程之構建及分析 1998
203 應用雙反應曲面分析法於動態系統多重品質特性最佳化之研究 1997
204 在製程檢驗型II誤差下缺貨成本對EMQ模型之影響 1996
205 重覆性實驗計畫中型II受限資料分析方法 1996
206 動態系統多重品質特性最佳化之研究 1996
207 積體電路晶圓缺陷管制圖之經濟性設計 1996
208 群聚分析與模糊自適應共振理論之比較研究 1996
209 製程能力指標之抽樣計劃和複式信賴下限 1996
210 可靠度評估程序之構建 1995
211 通貨膨脹影響下最適損性存貨模式之推導 1994
212 滿意度模式建立與滿意構面確認之研究 1994
213 服務品質量表發展方法與程序之研究 1994
214 可修復系統現場失效數據之分析與預測 1994
215 新速製程能力指標之研究 1994
216 田口方法望大望小品質特性SN比之研究 1993
217 積體電路良率模式之修正與研究 1993
218 積體電路生產線上考慮缺陷群聚現象的製程管制圖 1993
219 可修復系統新方法之發展與預測模式之建立 1993
220 實驗計劃中受限資料的非參數分析模式 1993
221 田口方法於線外品管多重品質特性製程最佳化之應用研究 1992
222 參數設計之品質損失最小演算法 1992
223 可靠度資訊整合系統架構的分析與設計 1992
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