溫宏斌 Wen, Hung-Pin
電子郵件/E-mail:opwen@g2.nctu.edu.tw
服務單位/Department:電機學院 / 電機工程學系
著作期間/Publish Period:2007 - 2014-08-01
著作統計/Statistics
Books
序號 No. |
標題 Title |
著作日期 Date |
---|---|---|
1 | 國立交通大學電機工程學系溫宏斌教師升等送審著作論文集 | 2011 |
Digital Courses
序號 No. |
標題 Title |
著作日期 Date |
---|---|---|
1 |
物件導向程式設計 |
2011 |
2 |
計算機概論與程式設計 |
2010 |
Patents
序號 No. |
標題 Title |
著作日期 Date |
---|---|---|
1 |
軟性電子錯誤防護裝置 |
2014-08-01 |
Plan
Proceedings Paper
序號 No. |
標題 Title |
著作日期 Date |
---|---|---|
1 | A Queueing Analytical Model for Service Mashup in Mobile Cloud Computing | 2013-01-01 |
Thesis
序號 No. |
標題 Title |
著作日期 Date |
---|---|---|
1 | 分區定址動態繞徑演算法的開發與實踐在軟體定義網路之資料中心 | 2014 |
2 | 利用四值編碼考慮訊號轉換效應的邏輯功能時序分析 | 2014 |
3 | 考慮溫度效應影響的統計型軟性電子錯誤率分析架構 | 2013 |
4 | 以CUDA 為基礎快速靜態時序分析引擎以及其應用 | 2013 |
5 | 針對奈米級CMOS設計電路提出考慮導線效應和老化效應的統計型軟性錯誤率分析的方法 | 2012 |
6 | 安全關鍵應用的設計最佳化以達到零軟性電子錯誤率 | 2012 |
7 | 可防護軟性電子錯誤的閘設計 | 2012 |
8 |
基於軟體定義網路的雲端資料中心上 網路效能和能源消耗最佳化研究 |
2012 |
9 | 以手機實現無線心電圖儀之設計 | 2011 |
10 | 共享記憶體架構下平行測試向量產生器的 向量增長抑制技術 | 2011 |
11 |
分析在全電量之粒子影響下之統計性軟性電子錯誤率 |
2010 |
12 |
針對開放式線段缺陷的診斷性自動測試向量產生器與其診斷流程設計 |
2010 |
13 |
應用進階變異數縮減技術的蒙地卡羅軟性電子錯誤率分析 |
2010 |
14 |
應用參數化閉合型式並考慮時序相關性的統計型靜態時序分析於軟性錯誤率分析 |
2010 |
15 |
應用於多重拜占庭開放線段缺陷上以整數線性規劃為基礎的錯誤診斷方法設計 |
2009 |
16 |
準確的軟性錯誤率分析 |
2009 |
17 |
應用於三維積體電路在矽穿孔的限制下的掃描鏈重排序設計方法 |
2009 |
18 |
應用資料探勘的有界時序電路等價驗證之加速方法設計 |
2008 |
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