Browsing by Subject Oxide Traps
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| Issue Date | Title | Author(s) |
|---|---|---|
| 2013 | 二氧化鉿高介電層之N通道金氧半電晶體氧化層缺陷研究 | 伍邦齊; Wu, Pang-Chi; 莊紹勳; Chung, Steve S.; 電子工程學系 電子研究所 |
| 1996 | 利用暫態電流量測技術研究超大型積體電路元件中氧化層之可靠度 | 張澤恩; Chang, Tse-En; 汪大暉; Tahui Wang; 電子研究所 |