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| 公開日期 | 標題 | 作者 |
|---|---|---|
| 2005 | 藉由多層催化金屬於低溫成長奈米碳管之場發射顯示器之研究 | 邰翰忠; Han-Chung Tai; 鄭晃忠; Dr. Huang-Chung Cheng; 電子研究所 |
| 2005 | 銅導線中電遷移效應所引發之故障特性探討 | 林明賢; Ming-Hsien, Lin; 汪大暉; Dr. Tahui Wang; 電子研究所 |
| 公開日期 | 標題 | 作者 |
|---|---|---|
| 2005 | 藉由多層催化金屬於低溫成長奈米碳管之場發射顯示器之研究 | 邰翰忠; Han-Chung Tai; 鄭晃忠; Dr. Huang-Chung Cheng; 電子研究所 |
| 2005 | 銅導線中電遷移效應所引發之故障特性探討 | 林明賢; Ming-Hsien, Lin; 汪大暉; Dr. Tahui Wang; 電子研究所 |