瀏覽 的方式: 關鍵字 Wafer Defect Patterns
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公開日期 | 標題 | 作者 |
---|---|---|
2017 | 利用不平衡資料取樣策略改善晶圓缺陷群聚分類模型 | 李岡峯; 唐麗英; 洪瑞雲; Lee,Gang-Fong; Tong, Lee-Ing; Horng, Ruey-Yun; 工業工程與管理系所 |
公開日期 | 標題 | 作者 |
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2017 | 利用不平衡資料取樣策略改善晶圓缺陷群聚分類模型 | 李岡峯; 唐麗英; 洪瑞雲; Lee,Gang-Fong; Tong, Lee-Ing; Horng, Ruey-Yun; 工業工程與管理系所 |