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| 公開日期 | 標題 | 作者 |
|---|---|---|
| 1-二月-2001 | Differential capacitance measurements of relaxation-induced defects in InGaAs/GaAs Schottky diodes | Chen, JF; Chen, NC; Wang, JS; Chen, YF; 電子物理學系; Department of Electrophysics |