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公開日期標題作者
1995半空乏型矽氧化絕緣基片MOS元件之熱電子可靠性葉俊祺; Yeh, Jun-Chyi; 莊紹勳; Steve S. Chung; 電子研究所
2004複晶矽薄膜電晶體之製程與可靠度之研究桑任逸; Jen-Yi Sang; 雷添福; Tan-Fu Lei; 電子研究所
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