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| 公開日期 | 標題 | 作者 |
|---|---|---|
| 2016 | 基於單張干涉圖之表面形貌與尺度量測術 | 楊士緯; 林錫寬; Yang, Shih-Wei; Lin, Shir-Kuan; 電控工程研究所 |
| 2015 | 外差疊紋干涉術的原理與其應用之研究 | 張巍耀; Chang, Wei-Yao; 許根玉; 陳坤煌; Hsu, Ken Y.; Chen, Kun-Huang; 光電工程研究所 |
| 公開日期 | 標題 | 作者 |
|---|---|---|
| 2016 | 基於單張干涉圖之表面形貌與尺度量測術 | 楊士緯; 林錫寬; Yang, Shih-Wei; Lin, Shir-Kuan; 電控工程研究所 |
| 2015 | 外差疊紋干涉術的原理與其應用之研究 | 張巍耀; Chang, Wei-Yao; 許根玉; 陳坤煌; Hsu, Ken Y.; Chen, Kun-Huang; 光電工程研究所 |