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公開日期標題作者
1-四月-1999Application of neural fuzzy network to pyrometer correction and temperature control in rapid thermal processingLai, JH; Lin, CT; 電控工程研究所; Institute of Electrical and Control Engineering
1-一月-2007Development of a new cluster index for wafer defectsTong, Lee-Ing; Wang, Chung-Ho; Chen, Da-Lun; 工業工程與管理學系; Department of Industrial Engineering and Management
1-二月-2005Monitoring defects in IC fabrication using a hotelling T-2 control chartTong, LI; Wang, CH; Huang, CL; 工業工程與管理學系; Department of Industrial Engineering and Management
2001以矽膠管與吸收瓶採集無塵室無機酸鹼性氣體之方法比較劉政彰; Chengchang Liu; 白曛綾; Hsunlin Bai; 環境工程系所
2003利用晶圓旋轉和/或位移改善燈源加熱晶圓之等溫性研究賴信介; Hsin-Chieh Lai; 林清發; Dr. Tsing-Fa Lin; 機械工程學系
2002利用模糊自適應共振理論建構晶圓表面缺陷點及缺陷群聚之管制程序陳玉嬌; Yu-Chiao Chen; 唐麗英; Lee-Ing Tong; 工業工程與管理學系
2006建構晶圓量測點抽樣管制流程方翔立; Hsiang-Li Fang; 唐麗英; 洪瑞雲; Lee-Ing Tong; Ruey-Yun Homg; 工業工程與管理學系
1996快速熱處理器系統模擬及溫控器設計曾朝興; Tseng, Chao-Hsing; 張隆國; Chang Long-Kuo; 電控工程研究所
2002應用倒傳遞類神經網路構建積體電路之良率模式李靜宜; Ching-Yi Lee; 唐麗英; Lee-Ing Tong; 工業工程與管理學系
2004應用多變量指數加權移動平均管制圖監控晶圓表面缺陷數與缺陷群聚問題歐陽; Yang Ou; 唐麗英; Lee-Ing Tong; 工業工程與管理學系
2002應用模糊理論構建晶圓缺陷點與群聚現象之管制圖王敏嘉; Min-Chia Wang; 唐麗英; Lee-Ing Tong; 工業工程與管理學系
2000應用監督式類神經網路於晶粒表面缺陷辨識之研究柯岐謀; Ke, Chir-mour; 蘇朝墩; Su, Chao-Ton; 工業工程與管理學系
2002晶圓之場效電晶體機械應力之監測陳健生; Jien Sheng Chen; 陳明哲; Ming jer chen; 電子研究所
2007晶圓出貨檢驗流程之標準化及電腦系統之構建郭晴菀; 唐麗英; 管理學院工業工程與管理學程
2001晶圓缺陷點群聚指標之建立陳大倫; Da-Lun Chen; 唐麗英; 梁高榮; Lee-Ing Tong; Gau-Rong Liang; 工業工程與管理學系
2000積體電路生產線上結合缺陷數與群聚指標之Hotelling T2多變量管制圖黃志力; Chih Li Huang; 唐麗英; Lee-Ing Tong; 工業工程與管理學系
1998考慮缺陷來源與群聚現象之積體電路良率模式傅旭正; Hsu-Cheng Fu; 唐麗英; Tong Lee-Ing; 工業工程與管理學系
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