瀏覽 的方式: 關鍵字 x-ray diffractometry (XRD)
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公開日期 | 標題 | 作者 |
---|---|---|
2009 | 利用射頻反應磁控濺鍍方式來研究氧化鋅薄膜之材料特性與電漿特性之關係 | 許哲維; Hsu, Che-Wei; 吳宗信; Wu, Jong-Shinn; 機械工程學系 |
公開日期 | 標題 | 作者 |
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2009 | 利用射頻反應磁控濺鍍方式來研究氧化鋅薄膜之材料特性與電漿特性之關係 | 許哲維; Hsu, Che-Wei; 吳宗信; Wu, Jong-Shinn; 機械工程學系 |