1. You are Here：

Browsing by Subject yield model

Jump to: 0-9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Y Z
or enter first few letters:  
Showing results 1 to 11 of 11
Issue DateTitleAuthor(s)
1-Mar-2006Manufacturing performance evaluation for IC productsHsieh, KL; Tong, LI; 工業工程與管理學系; Department of Industrial Engineering and Management
4-May-2008Novel yield model for integrated circuits with clustered defectsTong, Lee-Ing; Chao, Li-Chang; 工業工程與管理學系; Department of Industrial Engineering and Management
1996利用類神經網路構建之積體電路良率預估模式趙豊昌; Chao, Lee-Chang; 唐麗英, 李威儀; Lee-Ing Tong, Wei-I Lee; 工業工程與管理學系
2002應用倒傳遞類神經網路構建積體電路之良率模式李靜宜; Ching-Yi Lee; 唐麗英; Lee-Ing Tong; 工業工程與管理學系
2006應用基因演算法及倒傳遞網路構建積體電路之良率預測模式林宗順; Jun-Shuw Lin; 唐麗英; 洪瑞雲; Lee-Ing Tong; Ruey-Yun Horng; 工業工程與管理學系
2007應用粒子群神經網路構建積體電路之良率預測模式彭御哲; Yu-Che Peng; 唐麗英; Lee-Ing Tong; 工業工程與管理學系
2004應用自組性演算法構建積體電路之良率模式楊博欽; 唐麗英; 洪瑞雲; 工業工程與管理學系
2002整合缺陷點數與群聚指標之積體電路良率模式許志瑋; CHIC-WEI HSU; 唐麗英; Lee-Ing Tong; 工業工程與管理學系
2008整合良率預估及缺陷樣式辨識之晶圓缺陷診斷系統趙豊昌; Chao, Li-Chang; 唐麗英; Tong, Lee-Ing; 工業工程與管理學系
1993積體電路良率模式之修正與研究呂金盛; Leu, Chin-Sheng; 唐麗英; 李威儀; Tong, Lee-Ing; Lee, Wei-I; 工業工程與管理學系
1998考慮缺陷來源與群聚現象之積體電路良率模式傅旭正; Hsu-Cheng Fu; 唐麗英; Tong Lee-Ing; 工業工程與管理學系
Showing results 1 to 11 of 11