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2006氮化矽快閃式記憶元件可靠度之探討古紹泓; Shaw-Hung Gu; 汪大暉; Tahui Wang; 電子研究所
2000氮化矽記憶元件可靠性量測與分析古紹泓; Shau-Hong Ku; 汪大暉; Tahui Wang; 電子研究所
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