Browsing by Author 史志洋
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| Issue Date | Title | Author(s) |
|---|---|---|
| 2010 | 利用實驗設計法改善測試機台造成 IC 晶粒破裂之問題---以A封測廠為例 | 史志洋; Shih, Jhih-Yang; 張永佳; Chang, Yung-Chia; 管理學院工業工程與管理學程 |
| Issue Date | Title | Author(s) |
|---|---|---|
| 2010 | 利用實驗設計法改善測試機台造成 IC 晶粒破裂之問題---以A封測廠為例 | 史志洋; Shih, Jhih-Yang; 張永佳; Chang, Yung-Chia; 管理學院工業工程與管理學程 |