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公開日期標題作者
1989數位電路中延遲故障之可測試性度量吳文慶; WU,WEN-QING; 李崇仁; LI,CHONG-REN; 電子研究所
1996數位電路之延遲測試與障礙模擬吳文慶; Wu, Wen Ching; 李崇仁; Chung Len Lee; 電子研究所
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