瀏覽 的方式: 作者 戴光駿
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公開日期 | 標題 | 作者 |
---|---|---|
2016 | 利用碲為源層及增強阻障特性於氮化矽金屬導電橋接電阻式記憶體之可靠度優化研究 | 戴光駿; 曾俊元; Dai, Guang-Jyun; Tseng, Tseung-Yuen; 電子工程學系 電子研究所 |
公開日期 | 標題 | 作者 |
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2016 | 利用碲為源層及增強阻障特性於氮化矽金屬導電橋接電阻式記憶體之可靠度優化研究 | 戴光駿; 曾俊元; Dai, Guang-Jyun; Tseng, Tseung-Yuen; 電子工程學系 電子研究所 |