1. 目前位置：

瀏覽 的方式： 作者 甘永勝

跳到： 0-9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Y Z
或是輸入前幾個字：  
顯示 1 到 1 筆資料，總共 1 筆
公開日期標題作者
2006運用資料探勘技術於改善半導體測試業的計價系統效能甘永勝; Kevin Kan; 陳瑞順; Ruey-Shun Chen; 管理學院資訊管理學程
顯示 1 到 1 筆資料，總共 1 筆