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瀏覽 的方式： 作者 馮顯琮

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2012以焦耳熱效應與滲透理論為基礎的電阻式記憶體數值模擬馮顯琮; Feng, Hsien-Tsung; 侯拓宏; Hou, Tuo-Hung; 電子研究所
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