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National Chiao Tung University Institutional Repository
瀏覽 的方式： 作者 Bin, Shu-Yung
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顯示 1 到 2 筆資料，總共 2 筆
公開日期
標題
作者
1-二月-2016
Predicting Shot-Level SRAM Read/Write Margin Based on Measured Transistor Characteristics
Bin, Shu-Yung
;
Lin, Shih-Feng
;
Cheng, Ya-Ching
;
Liau, Wen-Rong
;
Hou, Alex
;
Chao, Mango C. -T.
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
2014
基於量測電晶體特性之預測曝光層級靜態隨機存取記憶體讀寫容限
賓恕雍
;
Bin, Shu-Yung
;
趙家佐
;
Mango Chia-Tso Chao
;
電子工程學系 電子研究所
