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瀏覽 的方式： 作者 Chau-Chin, Su

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2003相容於IEEE Std. 1149.4 類比自我測試方法涂德松; Te-Sung, Tu; 李崇仁; 蘇朝琴; Chung-Len, Lee; Chau-Chin, Su; 電機學院電子與光電學程
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