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瀏覽 的方式： 作者 Ching-Wei, Tsai

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2002超薄氧化層元件中直接穿隧效應所引發之氧化層可靠性問題探討蔡慶威; Ching-Wei, Tsai; 汪大暉; Ta-Hui, Wang; 電子研究所
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