瀏覽 的方式： 作者 Chung, Steve-S.
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| 公開日期 | 標題 | 作者 |
|---|---|---|
| 2010 | 應變矽CMOS元件中隨機摻雜與隨機界面缺陷引起的臨界電壓變異度研究 | 程政穎; Cheng, Cheng-Ying; 莊紹勳; Chung, Steve-S.; 電子研究所 |
| 2018 | 新穎高性能鰭式電晶體結構 及其高頻特性分析 | 林建里; 莊紹勳; Lin, Jian-Li; Chung, Steve-S.; 電子研究所 |
| 公開日期 | 標題 | 作者 |
|---|---|---|
| 2010 | 應變矽CMOS元件中隨機摻雜與隨機界面缺陷引起的臨界電壓變異度研究 | 程政穎; Cheng, Cheng-Ying; 莊紹勳; Chung, Steve-S.; 電子研究所 |
| 2018 | 新穎高性能鰭式電晶體結構 及其高頻特性分析 | 林建里; 莊紹勳; Lin, Jian-Li; Chung, Steve-S.; 電子研究所 |