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瀏覽 的方式： 作者 Hsiao, Yuan-Chun

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2010利用多道次奈米壓痕與陰極螢光量測法對A軸氮化鎵磊晶薄膜機械特性之研究蕭元駿; Hsiao, Yuan-Chun; 周長彬; Chou, Chang-Ping; 機械工程學系
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