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瀏覽 的方式： 作者 Lee, Giahn-Horng

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公開日期標題作者
1995次微米MOS元件中熱電子導致氧化層傷害及元件特性退化分析李建宏; Lee, Giahn-Horng; 莊紹勳; Steve S. Chung; 電子研究所
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