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瀏覽 的方式： 作者 Lee, Tong-Hsin

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1996銅/障礙層/二氧化矽/矽結構中氮化效應對鉬及鉻障礙特性之表現李東興; Lee, Tong-Hsin; 陳茂傑; Mao-Chieh Chen; 電子研究所
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