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瀏覽 的方式： 作者 Li, Yi-ming

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2015製程變異、金屬功函數擾動及隨機摻雜擾動對 10 奈米全閘極奈米線場效應電晶體特性之研究張翰東; Chang, Han Tung; 李義明; Li, Yi-ming; 電信工程研究所
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