瀏覽 的方式： 作者 Min-Cheng Chen
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| 公開日期 | 標題 | 作者 |
|---|---|---|
| 2001 | 末端結構設計對電致遷移生命期測試之影響 | 陳敏晟; Min-Cheng Chen; 崔秉鉞; Bing-Yue Tsui; 電子研究所 |
| 1999 | 超薄閘極氧化層電荷傳輸和C-V模擬與特性 | 陳旻政; Min-Cheng Chen; 汪大暉; Tahui Wang; 電子研究所 |
| 公開日期 | 標題 | 作者 |
|---|---|---|
| 2001 | 末端結構設計對電致遷移生命期測試之影響 | 陳敏晟; Min-Cheng Chen; 崔秉鉞; Bing-Yue Tsui; 電子研究所 |
| 1999 | 超薄閘極氧化層電荷傳輸和C-V模擬與特性 | 陳旻政; Min-Cheng Chen; 汪大暉; Tahui Wang; 電子研究所 |