瀏覽 的方式: 作者 Prof. Ming-Jer Chen

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1999深次微米互補式金氧半可靠性重要議題:因時變化的介電崩壞與穿透漏電流黃煥宗; Huan-Tsung Huang; 陳明哲; Prof. Ming-Jer Chen; 電子研究所