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瀏覽 的方式： 作者 Shih, Jhih-Yang

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2010利用實驗設計法改善測試機台造成 IC 晶粒破裂之問題---以A封測廠為例史志洋; Shih, Jhih-Yang; 張永佳; Chang, Yung-Chia; 管理學院工業工程與管理學程
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