瀏覽 的方式: 作者 Shih, Wei-Lun
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公開日期 | 標題 | 作者 |
---|---|---|
2007 | Dynamic stress effects on the reliability of poly-Si TFT | Kuo, Yan-Fu; Huang, Shih-Che; Shih, Wei-Lun; Tai, Ya-Hsiang; 光電工程學系; Department of Photonics |
公開日期 | 標題 | 作者 |
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2007 | Dynamic stress effects on the reliability of poly-Si TFT | Kuo, Yan-Fu; Huang, Shih-Che; Shih, Wei-Lun; Tai, Ya-Hsiang; 光電工程學系; Department of Photonics |