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瀏覽 的方式： 作者 Shih, Wei-Lun

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公開日期標題作者
2007Dynamic stress effects on the reliability of poly-Si TFTKuo, Yan-Fu; Huang, Shih-Che; Shih, Wei-Lun; Tai, Ya-Hsiang; 光電工程學系; Department of Photonics
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