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瀏覽 的方式： 作者 Tsai, Hanmin

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2012使用新的量測方法探討三面閘極金氧半電晶體 氧化層隨機陷阱造成之擾動效應蔡漢旻; Tsai, Hanmin; 莊紹勳; Chung, Steve S.; 電子研究所
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