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國立陽明交通大學機構典藏
瀏覽 的方式: 作者 Wen-Lea Pearn
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顯示 1 到 13 筆資料,總共 13 筆
公開日期
標題
作者
1999
IC 封裝廠排程問題
陳巧頤
;
Chiao-Yi Chen
;
彭文理
;
鍾淑馨
;
Wen-Lea Pearn
;
Dr. Shu-Hsing Chung
;
工業工程與管理學系
2000
IC 最終測試廠排程問題
陳安怡
;
An-Yi Chen
;
彭文理
;
Wen-Lea Pearn
;
工業工程與管理學系
1999
多工單等級下晶圓廠生產週期時間估算模式
陳志強
;
Chih-Chiang Chen
;
鍾淑馨
;
彭文理
;
Shu-Hsign Chung
;
Wen-Lea Pearn
;
工業工程與管理學系
2002
多階段IC封裝排程問題--以演算法為基礎之解決方案
陳勇亘
;
Yung-Hsuan Chen
;
彭文理
;
鍾淑馨
;
Wen-Lea Pearn
;
Shu-Hsing Chung
;
工業工程與管理學系
2002
多階段再回流晶圓針測排程問題之整合性解法
蕭冠鵬
;
Kuan-Peng Hsiao
;
彭文理
;
鍾淑馨
;
Wen-Lea Pearn
;
Shu-Hsing Chung
;
工業工程與管理學系
2003
應用改善式啟發解與基因演算法求解晶圓針測排程問題之最大完成時間最小化
蔡育燐
;
Yu-Lin Tsai
;
彭文理
;
楊明賢
;
Wen-Lea Pearn
;
Ming-Hsien Yang
;
工業工程與管理學系
1999
晶圓製造廠縮短特定訂單週期時間之研究
李振樺
;
chenghua Lee
;
鍾淑馨
;
彭文理
;
Shu-Hsing Chung
;
Wen-Lea Pearn
;
工業工程與管理學系
2000
晶圓針測廠等效平行機台排程問題之研究:模式、演算法與應用
楊明賢
;
Ming-Hsien Yang
;
彭文理
;
鍾淑馨
;
Wen-Lea Pearn
;
Shu-Hsing Chung
;
工業工程與管理學系
2005
考慮製程平均發生偏移下之製程能力評估
吳佩青
;
Pei-Ching Wu
;
彭文理
;
Wen-Lea Pearn
;
工業工程與管理學系
2006
考慮量測誤差下的製程能力指標
廖茂原
;
Mou-Yuan Liao
;
彭文理
;
Wen-Lea Pearn
;
工業工程與管理學系
2006
考慮韋伯製程平均發生偏移下之製程能力評估方法
李源翌
;
Yuan-Yi Li
;
彭文理
;
Wen-Lea Pearn
;
工業工程與管理學系
2006
製程能力指標Cpm估計方法之比較
黃翊展
;
Yi-Chan Huang
;
彭文理
;
Wen-Lea Pearn
;
工業工程與管理學系
2002
記憶體IC最終測試廠主生產規劃系統之構建
黃信榮
;
Hsin-Jung Huang
;
鍾淑馨
;
彭文理
;
Shu-Hsing Chung
;
Wen-Lea Pearn
;
工業工程與管理學系