瀏覽 的方式: 作者 XIE, XIAN-TANG

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1992以光調制反射光譜技術量測砷化鎵薄膜的特性及砷化鎵/砷化鎵鋁量子線的研製謝獻堂; XIE, XIAN-TANG; 楊賜麟; YANG, CI-LIN; 電子物理系所