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瀏覽 的方式： 作者 Yu-Liang Tseng

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2007以鉿為基底之高介電常數閘極介電層之N通道金氧半電晶體可靠度探討曾友良; Yu-Liang Tseng; 莊紹勳; Steve S. Chung; 電子研究所
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