後次微米時代新興電子設計自動化技術之研究---子計畫四：應用計算智慧推理處理後深次微米時代電路設計上的可靠度挑戰(III)

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DC 欄位	值	語言
dc.contributor.author	溫宏斌	en_US
dc.contributor.author	Wen Charles H.-P.	en_US
dc.date.accessioned	2014-12-13T10:45:01Z	-
dc.date.available	2014-12-13T10:45:01Z	-
dc.date.issued	2010	en_US
dc.identifier.govdoc	NSC99-2220-E009-011	zh_TW
dc.identifier.uri	http://hdl.handle.net/11536/100244	-
dc.identifier.uri	https://www.grb.gov.tw/search/planDetail?id=2159110&docId=347485	en_US
dc.description.sponsorship	行政院國家科學委員會	zh_TW
dc.language.iso	zh_TW	en_US
dc.subject	軟性電子錯誤率	zh_TW
dc.subject	製程變異	zh_TW
dc.subject	支持向量回歸	zh_TW
dc.subject	蒙地卡羅	zh_TW
dc.subject	統計靜態時序分析	zh_TW
dc.subject	soft error	en_US
dc.subject	process variation	en_US
dc.subject	SVM	en_US
dc.subject	Monte Carlo	en_US
dc.subject	SSTA	en_US
dc.title	後次微米時代新興電子設計自動化技術之研究---子計畫四：應用計算智慧推理處理後深次微米時代電路設計上的可靠度挑戰(III)	zh_TW
dc.title	Coping with Reliability Challenges to Circuit Designs beyond Deep Sub-Micron Era by Computational Intelligence Reasoning (III)	en_US
dc.type	Plan	en_US
dc.contributor.department	國立交通大學電信工程學系（所）	zh_TW
顯示於類別：	研究計畫

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