標題: 異質接面電晶體的安全操作範圍研究 (II)
Study of Ruggedness and the Safe Operating Area of GaAs Based Heterojunction Bipolar Transistors (II)
作者: 李建平
LEE CHIEN-PING
國立交通大學電子工程學系及電子研究所
公開日期: 2014
官方說明文件#: NSC103-2221-E009-007
URI: http://hdl.handle.net/11536/101210
https://www.grb.gov.tw/search/planDetail?id=8355724&docId=446863
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