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dc.contributor.author溫宏斌en_US
dc.contributor.authorWen Hung-Pinen_US
dc.date.accessioned2014-12-13T10:49:44Z-
dc.date.available2014-12-13T10:49:44Z-
dc.date.issued2009en_US
dc.identifier.govdocNSC98-2220-E009-024zh_TW
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11536/101769-
dc.identifier.urihttps://www.grb.gov.tw/search/planDetail?id=1910812&docId=316912en_US
dc.description.sponsorship行政院國家科學委員會zh_TW
dc.language.isozh_TWen_US
dc.title後次微米時代新興電子設計自動化技術之研究---子計畫四:應用計算智慧推理處理後深次微米時代電路設計上的可靠度挑戰(II)zh_TW
dc.titleCoping with Reliability Challenges to Circuit Designs beyond Deep Sub-Micron Era by Computational Intelligence Reasoning(II)en_US
dc.typePlanen_US
dc.contributor.department國立交通大學電信工程學系(所)zh_TW
顯示於類別:研究計畫


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  1. 982220E009024.PDF

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