統計資料
總造訪次數
| 檢視 | |
|---|---|
| A new architecture for charge pump circuit without suffering gate-oxide reliability in low-voltage CMOS processes | 107 |
本月總瀏覽
| 一月 2025 | 二月 2025 | 三月 2025 | 四月 2025 | 五月 2025 | 六月 2025 | 七月 2025 | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| A new architecture for charge pump circuit without suffering gate-oxide reliability in low-voltage CMOS processes | 0 | 1 | 0 | 0 | 0 | 0 | 0 |
檔案下載
| 檢視 | |
|---|---|
| 000255014800051.pdf | 1 |
國家瀏覽排行
| 檢視 | |
|---|---|
| 中國 | 98 |
| 美國 | 5 |
| 加拿大 | 1 |
| 愛爾蘭 | 1 |
縣市瀏覽排行
| 檢視 | |
|---|---|
| Shenzhen | 96 |
| Menlo Park | 3 |
| Beijing | 2 |
| Kensington | 2 |
| Ottawa | 1 |