標題: | 臨界電壓量測裝置 |
作者: | 莊景德 周世傑 林耕慶 王紹丞 林宜緯 蔡銘謙 石維強 連南鈞 李坤地 朱俊愷 |
公開日期: | 16-十一月-2013 |
摘要: | 本發明係揭露一種臨界電壓量測裝置,其係連接一六電晶體靜態隨機存取記憶體,此記憶體包含二反向器,其係分別連接一場效電晶體,其中一反向器之電源端為浮接,且與此反向器連接之場效電晶體之源極與汲極相互短路,並利用此架構施加不同偏壓,再配合二電壓選擇器、一電阻、一放大器與上述記憶體構成負回授連接方式,以量測出另一反向器之二場效電晶體,及與其連接之場效電晶體之臨界電壓。本發明不用改變六電晶體靜態隨機存取記憶體之物理結構,就可以用單一電路架構量測三顆場效電晶體之臨界電壓,大幅降低製程、量測與時間成本。 |
官方說明文件#: | G01R031/3173 G11C016/02 |
URI: | http://hdl.handle.net/11536/103189 |
專利國: | TWN |
專利號碼: | 201346300 |
顯示於類別: | 專利資料 |