| 標題: | 用於擴散式光學斷層掃描之控制感測系統及其運作方法 |
| 作者: | 方偉騏 陳殿河 康適 吳世揚 鄭敬儒 |
| 公開日期: | 16-六月-2013 |
| 摘要: | 一種用於擴散式光學斷層掃描之控制感測系統及其運作方法,該控制感測系統包括控制單元及具有複數個光源和偵測器的感測電路,其中,每一光源的周圍係配設有對應的預定數量個偵測器,且複數個光源彼此的相對位置、複數個偵測器彼此的相對位置、各偵測器與各光源的相對位置係具有預定的距離。控制單元令複數個光源分別對一待測物發射光線,使待測物與光線反應以產生複數個光訊號,並令對應各該光源的預定數量個偵測器分別接收該些光訊號,並將該些光訊號傳輸至控制單元。藉此降低控制感測系統的複雜度,並達到微型化及低成本之功效。 |
| 官方說明文件#: | A61B008/13 |
| URI: | http://hdl.handle.net/11536/103262 |
| 專利國: | TWN |
| 專利號碼: | 201322961 |
| 顯示於類別: | 專利資料 |

