標題: 刺激目標範圍標定方法
作者: 蔡 德明
孫樹海
李宜軒
公開日期: 1-四月-2013
摘要: 本發明係提供一種刺激目標範圍標定方法,係應用微電極記錄及電阻抗斷層造影技術配合複合式探針,該複合式探針係包含至少一微電極記錄感測器和複數個微電極,以在複合式探針以微電極記錄訊號為導引植入符合刺激目標的深度後,利用該複數個微電極描繪出複合式探針周圍的組織結構,而標定出刺激目標的範圍及植入該複合式探針之精確位置。據此,本案係具有檢測快速、精確等優點,並解決現有深層腦部電刺激技術無法得知精確植入位置的問題。
官方說明文件#: A61B005/04
URI: http://hdl.handle.net/11536/103303
專利國: TWN
專利號碼: 201313190
顯示於類別:專利資料


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