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dc.contributor.author王仲益en_US
dc.contributor.author吳介琮en_US
dc.date.accessioned2014-12-16T06:13:15Z-
dc.date.available2014-12-16T06:13:15Z-
dc.date.issued2007-09-01en_US
dc.identifier.govdocH03M001/10zh_TW
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11536/104061-
dc.description.abstract本發明為校正時間交錯類比數位轉換器,提供兩路及多路幕後校正時間交錯類比數位轉換器兩種結構。上述兩種結構於校正過程直接以類比數位轉換器輸出訊號為調整之依據,不必外加訊號或中斷電路之正常運作;可動態調校,即使環境因素在使用過程中改變,亦能自行修正調校幅度,使時序歪斜量維持在極低水平;以及製程之不匹配不影響本發明之校正時間交錯類比數位轉換器,每多一路類比數位轉換器則取樣頻率及輸入訊號頻率便可有效增加,因此可達到極高速取樣頻率和極高速輸入訊號之要求,且額外增加之校正電路大部分為簡單數位電路,對於晶片面積可大幅縮小。zh_TW
dc.language.isozh_TWen_US
dc.title校正時間交錯類比數位轉換器zh_TW
dc.typePatentsen_US
dc.citation.patentcountryTWNzh_TW
dc.citation.patentnumber200733570zh_TW
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  1. 200733570.pdf

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