標題: 增進電阻抗斷層攝影影像解析度的方法
作者: 蔡 德明
孫樹海
公開日期: 21-Nov-2014
官方說明文件#: A61B008/13
URI: http://hdl.handle.net/11536/104375
專利國: TWN
專利號碼: I461180
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