標題: 增進電阻抗斷層攝影影像解析度的方法
作者: 蔡 德明
孫樹海
公開日期: 21-十一月-2014
官方說明文件#: A61B008/13
URI: http://hdl.handle.net/11536/104375
專利國: TWN
專利號碼: I461180
顯示於類別:專利資料


文件中的檔案:

  1. I461180.pdf

若為 zip 檔案,請下載檔案解壓縮後,用瀏覽器開啟資料夾中的 index.html 瀏覽全文。