完整後設資料紀錄
DC 欄位 | 值 | 語言 |
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dc.contributor.author | 陳璽文 | en_US |
dc.contributor.author | 張銘宏 | en_US |
dc.contributor.author | 謝維致 | en_US |
dc.contributor.author | 黃威 | en_US |
dc.date.accessioned | 2014-12-16T06:13:54Z | - |
dc.date.available | 2014-12-16T06:13:54Z | - |
dc.date.issued | 2014-01-11 | en_US |
dc.identifier.govdoc | G01R031/303 | zh_TW |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/11536/104409 | - |
dc.description.abstract | 本發明提供一種全晶片上寬工作電壓溫度製程電壓的感測系統,其係設置於一晶片上,該感測系統包含:一電壓感測裝置、一製程感測裝置、及一溫度感測裝置。其中,溫度感測裝置包含:一偏壓電流產生器、一環形振盪器、一固定脈衝產生器、一及閘、及一第一計數器。偏壓電流產生器依據晶片之工作電壓,而產生一與溫度相關之輸出電流。環形振盪器由輸出電流而產生一振盪訊號,固定脈衝產生器產生固定寬度之一脈衝訊號。第一及閘連接至環形振盪器及固定脈衝產生器,以對振盪訊號及脈衝訊號執行邏輯及運算,以產生一溫度感測訊號。 | zh_TW |
dc.language.iso | zh_TW | en_US |
dc.title | 全晶片上寬工作電壓溫度製程電壓的感測系統 | zh_TW |
dc.type | Patents | en_US |
dc.citation.patentcountry | TWN | zh_TW |
dc.citation.patentnumber | I422847 | zh_TW |
顯示於類別: | 專利資料 |