標題: | 在矽(110)基板上設有壓縮應變矽鍺通道之N型金氧半電晶體架構 |
作者: | 羅廣禮 簡昭欣 楊宗 張俊彥 |
公開日期: | 1-十二月-2008 |
摘要: | 本發明係提供一種在矽(110)基板上設有壓縮應變矽鍺通道之N型金氧半電晶體架構,其係包括一P-型矽(110)基板、二離子植入區用於源極與汲極、一壓縮應變矽鍺通道層與一閘極結構,其中,在P-型矽(110)基板上成長應變矽鍺電子通道層,以使得電子在[1-10]晶格方向上的傳導有效質量降低,提高電子在[1-10]方向上的傳導速度。因此,本發明係在矽(110)基板上可製作出高電子遷移率的N型金氧半電晶體。本發明所提出的N型金氧半電晶體還可以配合矽(110)基板上之高速P型金氧半電晶體以形成高性能之互補式金氧半電晶體。 |
官方說明文件#: | H01L029/04 H01L029/772 |
URI: | http://hdl.handle.net/11536/106206 |
專利國: | TWN |
專利號碼: | I303879 |
顯示於類別: | 專利資料 |