標題: 選擇性沉積碳奈米結構於矽晶基材之方法
作者: 郭正次
張惠林
林兆焄
許智明
公開日期: 1-四月-2005
摘要: 本發明選擇性沉積碳奈米結構於矽晶基材之方法,依序包含下列步驟:於矽晶基材上決定欲成長碳奈米結構的區域;於欲成長碳奈米結構的區域生長金屬矽化物;於金屬矽化物表面利用化學氣相沉積法成長碳奈米結構。由於在矽晶基材上之金屬矽化物區域即為碳奈米結構成長區域,因而達到選擇性沉積碳奈米結構之目的,另且,該金屬矽化物區域係由半導體製程方法製造,所以本發明的製程方法與現有半導體設備相容性高。
官方說明文件#: C23C016/22
C23C016/22
URI: http://hdl.handle.net/11536/106398
專利國: TWN
專利號碼: I230204
顯示於類別:專利資料


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