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dc.contributor.author江蕙如en_US
dc.contributor.author楊喻名en_US
dc.contributor.author何松庭en_US
dc.date.accessioned2014-12-16T06:17:34Z-
dc.date.available2014-12-16T06:17:34Z-
dc.date.issued2014-09-16en_US
dc.identifier.govdocG06F017/50zh_TW
dc.identifier.govdocG06F011/07zh_TW
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11536/106499-
dc.description.abstract近代電路設計中,往往需要考量可能面臨到的動態變異,因此,電路設計會考慮最糟的情況,並透過預留的時序保護帶來確保電路能夠正確的運作,但也因此降低的電路的效能。為了消除時序保護帶,習知技術使用可復原式電路。然而,可復原式電路將會面臨到更嚴峻的短路徑問題。本發明為了使得可復原式電路的錯誤偵測與修正能夠發揮作用,因此提供一工程變更之保持時間修復方法,以解決短路徑填補問題。異於習知技術的是本發明使用全域觀點來決定填補數値與位置。此外,本發明進一步提出粗質延遲填補與細質延遲填補方法,根據所決定的填補數値來加以實現。zh_TW
dc.language.isozh_TWen_US
dc.title工程變更之保持時間修復方法zh_TW
dc.typePatentsen_US
dc.citation.patentcountryTWNzh_TW
dc.citation.patentnumber201435629zh_TW
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