統計資料
總造訪次數
| 檢視 | |
|---|---|
| Component-level measurement for transient-induced latch-up in CMOS ICs under system-level ESD considerations | 118 |
本月總瀏覽
| 八月 2025 | 九月 2025 | 十月 2025 | 十一月 2025 | 十二月 2025 | 一月 2026 | 二月 2026 | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Component-level measurement for transient-induced latch-up in CMOS ICs under system-level ESD considerations | 0 | 1 | 0 | 2 | 0 | 0 | 5 |
檔案下載
| 檢視 | |
|---|---|
| 000241787400017.pdf | 10 |
國家瀏覽排行
| 檢視 | |
|---|---|
| 中國 | 97 |
| 美國 | 9 |
| 阿根廷 | 1 |
| 阿爾及利 | 1 |
| 法國 | 1 |
| 印度 | 1 |
| 日本 | 1 |
| 墨西哥 | 1 |
| 烏茲別克斯坦 | 1 |
縣市瀏覽排行
| 檢視 | |
|---|---|
| Shenzhen | 96 |
| Menlo Park | 5 |
| Kensington | 4 |
| Annecy-le-vieux | 1 |
| Suipacha | 1 |
| Zhengzhou | 1 |