統計資料

總造訪次數

檢視
Reproducing subthreshold characteristics of metal-oxide-semiconductor field effect transistors under shallow trench isolation mechanical stress using a stress-dependent diffusion model 110

本月總瀏覽

六月 2025 七月 2025 八月 2025 九月 2025 十月 2025 十一月 2025 十二月 2025
Reproducing subthreshold characteristics of metal-oxide-semiconductor field effect transistors under shallow trench isolation mechanical stress using a stress-dependent diffusion model 0 0 0 0 1 0 0

檔案下載

檢視
000240294900032.pdf 3

國家瀏覽排行

檢視
中國 95
美國 9
愛爾蘭 2
台灣 2
印度 1

縣市瀏覽排行

檢視
Shenzhen 94
Menlo Park 6
Edmond 1
Kensington 1
Mountain View 1
Shanghai 1
Taipei 1